VDW Verein Deutscher Werkzeugmaschinenfabriken e.V.

Aufrechte Mikroskope für die Materialwissenschaft und die industrielle Qualitätsanalyse sorgen für konstante Bildverhältnisse und zuverlässige Ergebnisse. Durch die einzigartige Softwarefunktion "Speichern und Abrufen" können Mikroskopeinstellungen und Bildparameter schnell reproduziert werden. Der Beleuchtungsmanager und der Kontrastmanager passen Blende, Feldblende und Lichtintensität an das gewählte Kontrastverfahren und das verwendete Objektiv an. Vollautomatisches Differential Interference Contrast (DIC) und 1,25x Übersichtsobjektiv für feinste Details. 
Drei Versionen:
Leica DM4 M für manuelle Routineprüfungen 
Leica DM6 M für die vollautomatische Materialanalyse 
Leica DM4 P Säulenmikroskop für die Polarisation